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中古品
NEW
商品ID：26289
商品概要
商品詳細
有機物に含まれている重元素などは、サンプル深くから発生した蛍光X線もサンプルを透過して検出器に到達するため、
同じ分析サンプルであってもサンプル量（サンプル深さ）の違いによって蛍光X線の強度が変わります。
そこで，管球から照射されたX線がサンプルに当たることで発生する散乱線（バックグラウンド）を用いることで
内標準補正を行い、サンプル深さや形状による定量誤差を補正することができます。
検出器、X線管球のいずれであっても装置の下部に搭載される下面照射型の光学系です。
分析サンプルのセットには、サンプル室内の測定エリア（穴の開いている部分）にサンプルを置くだけです。
サンプル室の蓋が完全に閉まらないとX線管球のシャッターが開かない仕組みとなっており
X線が装置の外部へ漏洩することはございません。
測定エリアにそのまま置おけないサンプル（粉体や液体）の分析の際には、
蛍光X線専用のフィルムを貼付けした容器にサンプル試料を入れ、フィルム越しに、サンプルにX線を照射して分析を行います。
同じ分析サンプルであってもサンプル量（サンプル深さ）の違いによって蛍光X線の強度が変わります。
そこで，管球から照射されたX線がサンプルに当たることで発生する散乱線（バックグラウンド）を用いることで
内標準補正を行い、サンプル深さや形状による定量誤差を補正することができます。
検出器、X線管球のいずれであっても装置の下部に搭載される下面照射型の光学系です。
分析サンプルのセットには、サンプル室内の測定エリア（穴の開いている部分）にサンプルを置くだけです。
サンプル室の蓋が完全に閉まらないとX線管球のシャッターが開かない仕組みとなっており
X線が装置の外部へ漏洩することはございません。
測定エリアにそのまま置おけないサンプル（粉体や液体）の分析の際には、
蛍光X線専用のフィルムを貼付けした容器にサンプル試料を入れ、フィルム越しに、サンプルにX線を照射して分析を行います。
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