商品ID:26226
商品概要
商品詳細
SEM像とCCD画像(光学画像)が連動する機能を持っており
低倍率(光学)~高倍率観察(SEM)まで、同一の観察視野のまま連続的なモニタリングができます(Zeromag機能)。
また、導電性の無い物質の観察に適している低真空モード(10~100Pa)での観察、
高真空モードでの観察、観察面の元素マッピングやエネルギー分散型X線分析装置(EDS)による ホウ素(B)~ウラン(U)までの元素分析も可能です。
更に、複数のSEM画像を自動的に重ね合わせることで、広範囲の合成画像を作成する機能(モンタージュ機能)も持っており、
広範囲のSEM画像を得ることもできます。
観察できる最大サンプルのサイズはΦ150mm×48mmtで、比較的大型のサンプルであってもそのまま観察することができます。
また、異物等の解析を行う際は、CCD画像による広範囲でのモニタリングで異物の存在箇所を特定し、
更に特定した異物については、同一視野の拡大によるEDSやSEM観察による元素分析を一連の作業で行えます。
低倍率(光学)~高倍率観察(SEM)まで、同一の観察視野のまま連続的なモニタリングができます(Zeromag機能)。
また、導電性の無い物質の観察に適している低真空モード(10~100Pa)での観察、
高真空モードでの観察、観察面の元素マッピングやエネルギー分散型X線分析装置(EDS)による ホウ素(B)~ウラン(U)までの元素分析も可能です。
更に、複数のSEM画像を自動的に重ね合わせることで、広範囲の合成画像を作成する機能(モンタージュ機能)も持っており、
広範囲のSEM画像を得ることもできます。
観察できる最大サンプルのサイズはΦ150mm×48mmtで、比較的大型のサンプルであってもそのまま観察することができます。
また、異物等の解析を行う際は、CCD画像による広範囲でのモニタリングで異物の存在箇所を特定し、
更に特定した異物については、同一視野の拡大によるEDSやSEM観察による元素分析を一連の作業で行えます。
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